图像分析型粒度分布测量软件 Mac-View第五版本的特点

结合各种识别工具，实现对所有粒子的测量和分析

通过读取 SEM 或 TEM 拍摄的图像并识别目标颗粒，自动计算粒径分布并量化颗粒形状。
通过使用手写板的手动分析工具，可以轻松识别形状复杂的颗粒和聚集颗粒。

Mac-View Version.5 的新功能和改进

-粒子采集模式新增“针状”

Mac-View Version.5 的特点

■ 聚集粒子的一次粒径分析

可以评价凝集粒子的一次粒径，这在过去是困难的。

■ 纳米粒子的评价

只要有尺度信息，无论粒度如何，都可以进行分析。

■ 多方面的分析/评估

可以自动测量粒度分布并分析颗粒形状（圆形度、纵横比等）。此外，可用数据丰富，可以评估聚集粒子的初级粒子。

■ 操作简单

无需专业知识，操作简单，工人的熟练程度无关紧要。

■ 无需昂贵的资本投资

只要您准备好图像（jpeg、位图），您就可以在 PC 上安装软件后立即使用它。

应用示例

纳米粒子、聚集粒子、粒状体、烧结体截面、乳化粒径等

支持软件

■ 粉体分析综合软件Mac-PIAS

Mac-PIAS是一款全新维度的综合粉体分析软件，可以对任何方法测得的“粒度分布数据”进行集中管理和分析。

■ 筛分试验数据分析软件Macmesh

Macmesh 是一款通过大量数据消除筛选测试中的人为错误并高效工作的工具。