图像分析型粒度分布测量软件 Mac-View介绍
结合各种识别工具，实现对所有粒子的测量和分析
通过读取 SEM 或 TEM 拍摄的图像并识别目标颗粒，自动计算粒度分布并量化颗粒形状。
通过使用手写板的手动分析工具，可以轻松识别形状复杂的颗粒和聚集颗粒。
Mac-View Version.5 的新功能和改进
-粒子采集模式新增“针状”
・提高自动识别处理速度
■ 聚集粒子的一次粒径分析
可以评价凝集粒子的一次粒径，这在过去是困难的。
■ 纳米粒子的评价
只要有尺度信息，无论粒度如何，都可以进行分析。
■ 多方面的分析/评估
可以自动测量粒度分布并分析颗粒形状（圆形度、纵横比等）。另外，可以获得的数据丰富，可以评价凝聚粒子的一次粒子。
■ 操作简单
无需专业知识，操作简单，工人的熟练程度无关紧要。
■ 无需昂贵的资本投资
只要您准备好图像（jpeg、位图），您就可以在 PC 上安装软件后立即使用它。
纳米粒子、聚集粒子、粒状体、烧结体截面、乳化粒径等
■ 粉体分析综合软件Mac-PIAS
Mac-PIAS是一款全新维度的综合粉体分析软件，可以对任何方法测得的“粒度分布数据”进行集中管理和分析。
■ 筛分试验数据分析软件Macmesh
Macmesh 是一款通过大量数据消除筛选测试中的人为错误并高效工作的工具。
| 测量功能 | 面积/周长/大径/小径/最大长度/最小长度/海伍德直径/圆周圆当量直径/圆度系数/纵横比/形状系数1-3/费雷特直径/马丁直径/克鲁姆拜因直径/双轴平均直径，双轴几何平均直径、双轴协调平均直径、长度等 |
|---|---|
| 分析功能 | 粒度% ・ ON / PASS 分析 ・ 体积/数量/长度转换 ・ 峰值数据分析 ・ 汇总数据分析 ・ 粒度分类转换 ・ 筛分垂直转换 ・ 形状系数分析 ・ 数据合成 ・ 数据分组 |
| 其他功能 | 各种图形显示功能、各种打印输出功能、文本输出功能、图像输出功能等。 |
| 操作环境 | ● PC/AT 兼容机运行Microsoft Windows 7/8/10（同时兼容32/64bit） *如果您使用的是Windows 7/8，请通过Windows Update 安装新的更新程序。 ● 用于许可证验证的USB 硬件配备可用于的USB 端口（必需） ● 连接扫描仪（兼容TWAIN）和可选液晶数位板时，需要USB 端口等接口 ● 显示器：显示高达全高清分辨率（1,920 x 1,080） ● CPU：根据操作系统所需的试用版（1 GHz 或更高的 CPU） ● 内存：建议 2GB 或更多 ● 至少需要 200MB 的可用空间内部硬件 ● 安装 有时需要 CD-ROM 驱动器 |
| 对应标准 | 基于 JIS Z 8827-1 |
